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葉臘石微結構及其晶體結構缺陷的高分辨透射電鏡分析 |
來源:礦物學報 更新時間:2013-06-22 10:38:38 瀏覽次數: |
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浙江工業大學嚴俊等采用場發射掃描電鏡(FE-SEM)、高分辨透射電鏡(HRTEM)結合選區電子衍射(SAED)、X射線粉晶衍射(XRD)及X射線熒光光譜(XRF)等對浙江青田葉臘石的微結構特征進行較系統的研究。結果表明:①粉晶X射線衍射證實青田葉臘石具有典型的單斜晶系特征,該結論與葉臘石粉體選區電子衍射結果吻合,且其伴生礦為石英。②葉臘石微晶體呈"復式板片"構型,且"復式"板片中薄片厚度約為8±2 nm。③在高能電子束輻照下,葉臘石礦物顆粒形貌及晶格結構發生明顯的改變,且由此產生晶格膨脹,并最終形成非晶態。
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