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馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統 |
來源:中國粉體技術網 更新時間:2014-03-06 08:49:27 瀏覽次數: |
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(中國粉體技術網/班建偉)在Pittcon 2014展會上,馬爾文儀器展出一款全新產品,是工業界和學術界的綜合分析解決方案——Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統。Pittcon 2014是馬爾文儀器自2013年9月收購納米科技公司Nano Sight后第一次在美國參展,為納米顆粒跟蹤分析系統增設納米顆粒大小和計數功能。
Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統將在Pittcon 2014展會上展出
NTA系統將與納米激光粒度儀和全新Viscotek SEC-MALS 20多角度光散射GPC/SEC檢測器檢測器共同展出。另外在馬爾文展位上,Mastersizer 3000超高速智能粒度分析儀將采用全新軟件。它能模仿其他激光衍射系統操作方式,而使得測量數據的任何可見差異得到合理解釋,因此儀器的升級將變得不再復雜?,F場分析能證實測量中的穩定性,并配有自定義報告能輕松滿足行業和公司標準。Mastersizer軟件現能提供8種語言,滿足世界各地的用戶完全無礙使用。
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