在非金屬礦物和粉體材料加工、產品銷售及下游應用過程中,其性能檢測是必不可少的環節,如采用激光粒度分析儀可檢測粉體產品粒度分布情況,采用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察碳酸鈣晶體形貌等。因此,小編特意整理了常見粉體材料測試項目、設備型號及可測性能。
粒度分布
激光粒度分析儀 |
丹東百特Bettersize3000plus |
0.01-3500微米粒度分布 |
納米粒度及Zeta分析儀 |
NanoZS+MPT2 |
納米粒度分布測定 |
Zeta電位 |
原子力顯微鏡(AFM)
原子力顯微鏡 |
Brukerdimensionicon |
基本形貌、3D效果顯示 |
電學磁學力學 |
熱學 |
粗糙度分析 |
透射電子顯微鏡(TEM)
透射電子顯微鏡 |
JEM2100F
FEITecnaiG2F30
TecnaiG2Spirit120KV
TitanCubedThemisG2300
Titan80-300
JEM-2010F
EITecnaiG220 |
TEM形貌觀察 |
HRTEM高分辨像 |
EDS能譜元素定性定量分析 |
STEM掃描透射電子顯微圖像 |
EELS能量損失譜 |
SAED選區電子衍射 |
S/TEM、EDS三維重構 |
微分相位襯度STEM技術測量固有磁場和電場 |
全息技術 |
缺陷分析 |
結構測定 |
洛倫茲透鏡 |
掃描電子顯微鏡-SEM
場發射掃描電子顯微鏡 |
ZeissMerlin
HitachiSU8010
HitachiS-3400N
日立S-5500
JSM-6301F
JSM7600F |
SEM形貌觀察 |
EDS點/線掃 |
EDS面掃 |
EDS形態學分析 |
EDS顆粒分析 |
EBSD振動拋光 |
EBSD測試 |
透射像(明場和暗場) |
掃描隧道顯微鏡-STM
掃描隧道顯微鏡 |
Low-TemperatureUHV-STMSystem |
原子級別高分辨表面形貌分析 |
表面電子結構表征 |
電鏡制樣
聚焦離子束(雙束) |
AurigaFIB |
形貌觀察 |
元素定性定量分析 |
晶體取向分析 |
原子序數襯度像 |
離子束加工與沉積 |
納米手操控(Omniprobe200) |
3D成像(圖像、成分、晶體取向) |
離子束鍍膜與刻蝕系統 |
Gatan682 |
碳膜(或鉻、金、鉑等) |
離子減薄儀 |
RES101 |
透射/掃描電鏡樣品的減薄,清洗和原位噴鍍 |
離子減薄儀 |
PIPSⅡ695 |
透射電鏡樣品的減薄,清洗 |
X射線衍射儀
最低12K,最高1600℃變溫測試,廣角、小角、掠入射、步進、慢掃、原位、織構等。
原位變溫X射線粉末衍射儀 |
日本理學D/max2550
XRD-7000型
布魯克D8Advance
PhilipsPW3040/60型
帕納科XPertProMRD高分辯衍射儀 |
低溫XRD(12K) |
高溫XRD(1600℃) |
小角散射 |
小角衍射 |
廣角 |
掠入射 |
慢掃 |
常規廣角 |
精修計算服務 |
物理吸附
比表面積和孔徑分析儀 |
麥克ASAP2020 |
BET |
微孔分布 |
介孔分布 |
化學吸附
全自動化學吸附儀 |
麥克AutoChem1II2920 |
程序升溫還原(TPR) |
程序升溫脫附(TPD) |
程序升溫氧化(TPO) |
程序升溫反應評價 |
TG、DSC
熱重、熱焓、比熱等測試,可測-180℃到1600℃范圍內各項數據
DSC |
Netzsch,STA449F3
MettlerDSC3
Netzsch,DSC204F1
Netzsch/BrukerTG209F3/Tensor27
TAQ600
Netzsch,404F3 |
常規DSC測試 |
TG |
TG-DSC測試 |
TG-DSC |
氧化誘導期 |
TG-IR |
比熱 |
導熱
測熱導率最低溫度可測到4.2K,最高測到1100℃,100℃以下可直接測出,100℃以上需要通過測熱擴散系數和比熱后計算。
激光導熱儀(LFA457) |
LFA457
LFA447
NETZSCH,LFA-457 |
熱擴散系數 |
激光導熱儀(LFA447) |
激光熱導儀 |
熱擴散系數 |
導熱測試儀 |
導熱系數 |
比熱測試儀 |
室溫-4.2K |
動態熱機械分析-DMA
動態熱機械分析儀 |
(Netzsch)DMA242E |
室溫~600℃ |
傅里葉紅外
可測普通紅外、ATR紅外、原位紅外和吡啶紅外等,在室溫到900℃溫區內提供多種氣氛。
傅立葉變換紅外光譜儀(帶原位反應池) |
Nicoletis50
ThermofisherNicolet6700
BrukerTensor27 |
衰減全反射ATR
透射紅外KBr壓片
透射紅外無需KBr壓片
漫反射
原位紅外
吡啶紅外 |
X射線光電子能譜儀XPS
X射線光電子能譜儀 |
PHI5000VersaprobeII
KratosAxisUltraDLD
ThermoScientificESCALAB250Xi |
常規寬譜掃描 |
窄譜掃描 |
紫外光電子能譜(UPS) |
選區成像mapping |
Ar離子刻蝕(不含采譜) |
Ar團簇離子深度剖析(采譜另計) |
Al/Mg雙陽極 |
原位高低溫(153~773K) |
準原位高低溫(123~1073K) |
角分辨XPS |
AES(俄歇能譜) |
REELS、ISS |
元素分析
可以分析各種無機樣品、有機樣品、金屬樣品元素含量,分析92號以前的全部元素。
CHNSO有機元素分析儀 |
Varioelcube |
CHNS元素
O元素 |
德國Elementar公司VarioELⅢ |
電感耦合等離子原子發射光譜儀 |
ThermoiCAP-6000
OPTIMA8000DV |
元素含量
全元素定量(同時測定55種元素) |
X射線熒光光譜儀(XRF) |
島津XRF-1800型波長色散熒光光譜儀 |
定性 |
定量 |
全元素定量 |
紅外碳硫儀 |
力可CS344 |
C、S含量 |
紅外氮氧儀 |
力可TC400 |
N、O含量 |
原位拉曼光譜
測溫范圍:80-473K,325514532633780nm波長都有。
拉曼光譜儀
共焦顯微拉曼光譜儀 |
LabRAMHR800
雷尼紹RiVia |
普通掃譜(325nm)
普通掃譜(532nm、785nm、633nm)
高低溫測試(LINKAM)
原位拉曼光譜測試(mapping+電化學工作站)
大光斑掃描(DUOSCAN)
變溫測試(80-473K) |
紫外可見近紅外分光光度計 |
Cary5000
島津UV360 |
紫外可見近紅外光譜
液體樣品紫外吸收測試
固體樣品透過率
反射率測試 |
極低溫力學性能
可測材料在液氦、液氮以及常溫下的力學性能。
電子萬能材料試驗機
(多臺、載荷等參數不同) |
拉伸強度 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
彎曲強度 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
斷裂韌性 |
室溫 |
液氮 |
液氦 |
壓縮強度 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
沖擊韌性 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
剪切強度 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
微機控萬能試驗機 |
CMT6104 |
三角彎曲變形、薄膜拉伸、拉伸強度 |
|
全自動電子萬能材料試驗機 |
ZwickZ100
ZwickZ050 |
拉伸 |
常溫 |
100-400℃ |
沖擊試驗機 |
三思縱橫300J
MTS-SANS
ZBC-300A
PMT-1200 |
沖擊韌性 |
室溫 |
室溫 |
液氮 |
20K |
4.2K |
疲勞試驗機 |
PLS100
Instron8802 |
疲勞 |
室溫 |
液氦 |
液氮 |
硬度
數顯布洛維硬度計 |
SHBRV-187.5 |
硬度測試 |
顯微維式硬度計 |
EM-1500L |
維式硬度測試 |
布氏硬度計 |
MHB-3000 |
硬度 |
洛氏硬度計 |
HRS-150 |
維氏硬度計 |
HVS-30P |
線膨脹測試(超大溫度范圍)
最低溫度可達4.2K,最高溫度能到2800℃。
線膨脹測試儀 |
德國Linseis,L75
耐馳DIL402C |
線膨脹系數 |
電池測試設備
研究型接觸角測量儀 |
DSA30 |
接觸角 |
表面張力測試儀 |
|
表面張力 |
水分測定儀 |
831KF |
固體水分測定 |
液體水分測定 |
全自動真密度分析儀 |
AccuPycII1340 |
真密度 |
全自動振實密度分析儀 |
GeoPyc1360 |
振實密度 |
手套箱 |
M.BRUN雙工位 |
手套箱機時 |
電化學工作站(VMP3) |
VMP3 |
EIS |
CV、充放電等 |
電化學工作站(Solartron) |
Solartron1470E |
EIS |
CV、充放電等 |
藍電測試儀 |
CT2001A |
恒流/恒壓充放電 |
動力電池
測試儀 |
S4000 |
電性能測試≤15A量程 |
電性能測試100A量程 |
電性能測試200A量程 |
電性能測試400A量程 |
電性能測試800A量程 |
振動試驗機 |
DC-300 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
機械沖擊試驗機 |
CL-50 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池高溫隔爆試驗機 |
DMS-9987 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
溫控型電池短路試驗機 |
DMS-WDL |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池低氣壓模擬試驗機 |
DMS-9988 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池自由跌落試驗機 |
DMS-9985 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池擠壓試驗機 |
DMS-9981 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池重物沖擊試驗機 |
DMS-Z9983 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池燃燒拋射試驗機 |
DMS-9986 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池洗滌試驗機 |
DMS-XD |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
電池針刺試驗機 |
DMS-9982 |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
靜電放電模擬器 |
ESS-B3011/GT-30R |
≤5Ah |
5-10(包含)Ah |
10-20(包含)Ah |
熱電
熱電測試系統 |
Linseis,LSR-3 |
電阻率Seebeck系數 |
綜合物性測量系統
磁場可到14T,溫度最低可達50mK。
PPMS |
QuantumDesign, |
材料物性測試 |
色譜
凝膠滲透色譜儀 |
WatersE2695 |
四氫呋喃測試溫度:30°C |
高溫凝膠滲透色譜儀 |
PL-GPC220 |
三氯苯測試溫度:150°C |
圓偏振熒光光譜儀 |
JASCOCPL-300 |
CPL |
氣相色譜質譜聯用儀(GCMS) |
Trace1300ISQ |
氣相色譜質譜 |
其他
壓汞儀 |
麥克AutoPoreIV9500 |
固體 |
粉末 |
橢偏儀 |
美國J.A.Woollam公司VB-400 |
薄膜厚度 |
折射率 |
消光系數測試 |
資料來源:材料牛
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