一、礦物嵌布粒度的測定
1、礦物嵌布粒度的概念
礦物嵌布粒度可分為結晶粒度與工藝粒度:
結晶粒度是指單個結晶顆粒的大小,主要用于成因研究;
工藝粒度是指某礦物的集合體顆粒和單個顆粒的大小;
礦物的嵌布粒度特性就是指礦物工藝粒度的大小和分布特征。
2、礦物工藝粒度的表征
在礦石標本中或礦石光片中對粒狀或非粒狀(不規則狀)顆粒的工藝粒度的表征通常有
兩種方法,即定向最大截距法和定向隨機截距法。
?。?/strong>1)定向最大截距
所謂“定向最大截距”,是指沿一定方向所測得的顆粒最大直徑。該方法適用于粒狀礦物顆?;蚣象w粒徑的測定。
圖1 定向最大截距
?。?/strong>2)定向隨機截距
對于非粒狀礦物顆粒或集合體,若為脈寬變化較為均勻的脈體,測其寬度作為粒徑。若為片狀礦物(如石墨、白云母、滑石等),測其解理面上的長軸作為劃分粒級的粒徑。對于特長纖維狀礦物(如石棉),一般測其纖維長度作為劃分粒級的粒徑。若礦物顆粒為不規則體,通常用“定向隨機截距”來表示其粒徑,根據等間距的定向測線所截的長度即定向隨機截距d1、d2、d3、d4、d5、d6等來表示其粒徑。
圖2 定向隨機截距
由于磨光切面大都未通過顆粒中心,所以所測得的粒徑數值總是要比實際的偏小一些。在進行粒度測量時,應保證足夠的測量顆粒數目。如果測量的顆粒數目很少,用“定向最大截距”或“定向隨機截距”來度量礦物的工藝粒度是不能反映其實際粒徑的。
3、顯微鏡下顆拉長度的測量
通常采用目鏡微尺進行顯微鏡下顆粒長度的測量。在接目鏡的前焦平面上裝上一塊在1rnm長度上刻有100分格標尺的小圓玻璃片,即為目鏡微尺。在一定的目鏡、物鏡組合條件下,于物臺上置一物臺微尺(通常在2mm的長度上刻有200個分格,每分格的長度為0.01mm),即可算出目鏡微尺在此目鏡-物鏡組合下的格值。設目鏡微尺與物臺微尺準焦重合后,目鏡微尺的80分格正好等于物臺微尺的56分格,則目鏡微尺的格值為:
目鏡微尺的格值=(物臺微尺格數×0.01mm)/(目鏡微尺格數)=(56×0.01mm)/80=0.007mm
必須注意目鏡微尺的格值是隨目鏡-物鏡組合而改變的。根據實測礦物粒徑的目鏡微尺格數,需乘以該目鏡-物鏡組合的格值才能計算出實際長度。如格值為0.007mm,目鏡微尺測得9格,則其粒徑長度:9×0.007mm=0.063mm。
4、顯微鏡下礦物工藝粒度的測量
在選取用于測量的具有代表性的原礦石樣品時,如果粒度范圍較窄或待測礦物的含量較多時,可選測較少量的光片。如果粒度范圍較寬月顆粒大小懸殊,并在礦石中分布又不均勻時,則需選測較多數量的光片。在制片時,須垂直層理、片理、片麻理和條帶方向磨制。
為增強樣品的代表性,減少抽樣誤差,減少測量工作量,一般常將具代表性的待測礦石樣品破碎至3mm左右,進行縮分,再用膠結劑(蟲膠、電木粉、環氧樹脂和三乙醇胺、松香和松節油、賽璐路等)進行膠固,最后磨制成團塊(砂)光片供工藝粒度測量或礦物百分含量測量用。對于松散礦石或松散的選礦產品,也須用上述方法磨制成團塊(砂)光片,以供測量用。
在粒度測量時,須人為地劃分出一些粒徑分布的區間——粒級,以便進行粒度測量。在顯微鏡下進行工藝粒度測量時,粒級的劃分可按目鏡微尺的格子數來劃分(如2、4、8、16、32...)。在選擇放大倍數,即目鏡-物鏡組合時,一般以保證最小粒級顆粒的放大物像的大小不少于目鏡微尺的2個刻度、最大粒級顆粒的放大物像的大小不超越目鏡微尺的刻度范圍為宜。
顯微鏡下粒度測量的方法主要有:面測法、線測法和點測法。
(1)面測法
面測法也稱為橫尺面測法,適用于粒狀顆粒的測量。該方法借助于目鏡微尺、機械臺和分類計數器(若無分類計數器用筆記錄也可)三者配合進行。將目鏡微尺東西橫放視場中,利用機械臺移動尺將光片按一定間距向測線作南北向移動,使a、b線范圍內的顆粒均逐漸通過微尺。
圖3 橫尺面測法示意圖(帶點顆粒為待測顆粒)
當每一個顆粒通過微尺時,根據該顆粒的“定向(東西向)最大截距”刻度數確定屬于哪一粒級,即認為是該粒級的顆粒;并按動分類計數器記錄該粒級的相應按鈕,以便累加該粒級的一個顆粒。這樣將依次通過微尺的顆粒測記下來后,又測另一毗鄰縱行。為免除多測了橫跨在指定范圍邊界上的顆粒而造成人為的誤差,可規定只測左邊豎a線上和ab線間的顆粒,而對橫跨(交切)右邊線上的顆粒不予測算。
本法及以下各法,對粒徑相差不大的標本,即粒徑分布范圍較窄時,一般須測500個顆粒左右;若粒徑相差懸殊,即粒徑分布范圍較寬時,所測顆粒數還須增加,才能保證必要的精度。也可用逐步試算法來具體確定所需測定的顆粒數。
(2)線測法
線測法包括橫尺線測法和順尺線測法兩種。
橫尺線測法是測量一定間距(距離以較大一些為好,以免重測粗粒徑的顆粒)測線上所遇及的粒狀顆粒。測法是將目鏡微尺橫放,即與測線垂直,對通過十字絲中心的顆粒借助于目鏡微尺進行垂直測線方向的“定向最大截距”的測量,并利用分類計數器分別記錄各級別所測的顆粒數。逐條測線地測完預計測量的測線和顆粒數后,進行整理計算。
圖4 橫尺線測法示意圖(帶點顆粒為待測顆粒)
由于本法系沿測線測量,較易漏掉粒徑較小的顆粒。因而,與橫尺面測法相比,用本法測量的結果,粗粒級偏高、細粒級偏低。
順尺線測法適用于非粒狀的不規則顆粒。測法也是測量按一定間距分布的測線上所遇及的顆粒,但由于顆粒的形狀極不規則,不能測其“定向最大截距”,而只能測其與測線平行交切的“定向隨機截距”。
目鏡微尺平行測線方向放置,測量和記錄微尺所切的“定向隨機截距”。以隨機截距為粒徑,將不同的隨機截距分別記錄在不同的粒級中;每一隨機截距算一個顆粒數。測完預計測量的測線和截距數后,進行整理和計一算,算出各粒級的體積或質量百分含量。
圖5 順尺線測法示意圖(測微尺平行測線)
?。?/strong>3)點測法
本法主要適用于粒狀顆粒。木法系借助于目鏡微尺(垂直測線方向橫放)、電動計點器(電動求積臺)配合進行的,用以沿測線測量通過十字絲交點的作等間距分布測點上的各粒級礦物點的數目。
圖6 點測法示意圖(實心點為計數點)
測量時視落入十字絲交點的待測有用礦一物屬何粒級(從橫放的目鏡微尺上測量其垂直測線方向的最大截距),便按動該粒級的計數按鈕,記下此粒級的一個點數;若跳動一定距離后仍在此較大顆粒中,則再按此粒級的計數按鈕一下,再記下一個點;如若跳入另一粒級的顆粒中,則按動另一粒級的計數按鈕,記下另一粒級的一個點數;若跳入其他伴生礦物或脈石礦物中時,則按動“空白”按鈕,使之往前跳動,但不予記數。直至測完欲測測線、點數或光片為止。
若系非粒狀顆粒,可按十字絲交點處的垂直測線方向的“橫向隨機截距”作為其粒徑來加以計算。
二、礦物單體解離度測定
1、單體解離度的概念
要想通過選礦把有用礦物富集起來,首先必須使有用礦物從礦石中解離。因此,礦物解離性的好壞在很大程度上影響了礦石的可選性。
礦石經過破碎后,有些礦物呈單礦物顆粒從礦石的其他組成礦物中解離出來,這種單礦物顆粒稱為“某礦物單體”。由兩種或兩種以上的礦物連生在一起的顆粒叫“某一某礦物連生體”。
圖7 礦物單體、脈石單體和礦物-脈石連生體
礦物解離性的好壞,主要表現在礦石經過粉碎后所形成單體的相對多少上,通常用“單體解離度”表示某礦物的解離程度。
礦物單體解離度,是指某礦物單體的含量與該礦物在樣品中的總量(單體含量與連生體含量之和)之比。即:
礦物單體解離度=(礦物單體含量/礦物總含量)×100%
顯然,礦物單體解離度越高,其解離性越好;反之,礦物單體解離度越低,其解離性就越差。在碎礦、磨礦過程中,只有將有用礦物充分解離出來,才能提高有用礦物的回收率和精礦的質量。因此,在流程產物的分析中,通常都要了解主要產物中礦物的單體解離度,以便檢查碎礦、磨礦和選別作用的效果,找出進一步提高選礦指標的措施。
2、礦物單體解離度的測定
礦物單體解離度的測定通常是在光學顯微鏡下進行的,而且,為了便于顯微鏡下觀察和測量,通常需要對樣品進行分級,并分別制備砂光片觀測。
首先,將樣品進行篩析或水析,分成若干粒級,并將各粒級樣品進行烘干、稱重,接著進行單元素的化學分析。然后,將不同粒級樣品磨制成砂光片或砂薄片,在顯微鏡下進行單體、連生體的測量,測定各粒級的單體解離度。
單體解離度的測定可采用前述的橫尺線測法或橫尺面測法測量出單體與連生體數,然后按線測法或面測法計算樣品中該礦物單體和連生體中的體積含量,進而根據單體體積與總體積(單體體積+連生體的體積)之比值,計算樣品中該礦物的單體解離度。
為了定量描述連生體中有用礦物的含量,通常按照有用礦物在整個連生體顆粒中所占體積比(面積比)進一步將連生體劃分為不同類型。如3/4、2/4和1/4連生體,分別說明在該連生體顆粒中,有用礦物所占的體積比分別為3/4、2/4和1/4。有時,也可將連生體顆粒進一步細分為7/8、6/8(3/4)、5/8、4/8(1/2)、3/8、2/8(1/4)、1/8等類型。
各粒級中礦物的單體解離度測定后,即可根據各粒級的產率和解離度測定結果,計算全樣的單體解離度。
更多精彩!歡迎掃描下方二維碼關注中國粉體技術網官方微信(粉體技術網)
|